GB/T 4937.2-2006《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure
标准类型：国家标准
标准属性：推荐性
标准状态：现行
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国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人崔波 、陈海蓉 。
基础信息
标准号：GB/T 4937.2-2006发布日期：2006-08-23实施日期：2007-02-01部分代替标准：GB/T 4937-1995,标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-2:2002。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人
崔波陈海蓉
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环境行业特色检测
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