GB/T 30868-2014《碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法》
Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers―Chemically etching
标准类型:国家标准
标准属性:推荐性
标准状态:现行
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国家标准《碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人丁丽 、周智慧 、郝建民 、蔺娴等 。
基础信息
标准号:GB/T 30868-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-02-01标准类别:方法中国标准分类号:H83国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委
起草单位
中国电子科技集团公司第四十六研究所中国电子技术标准化研究院
起草人
丁丽周智慧郝建民蔺娴
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